Structural evolution of in situ boron-doped SiGe ultrathin film analyzed by multi-optical methods. | Nanotechnology;31(27): 275702, 2020 Apr 17. | MEDLINE

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

Structural evolution of in situ boron-doped SiGe ultrathin film analyzed by multi-optical methods.

Chang, Feng-Ming; Wu, Zong-Zhe; Chen, Yeh; Yen, Ting-Yu; Huang, Yu-Hsiang; Chong, Li-Yun; JangJian, Shiu-Ko; Lee, Fu-Ying; Chang, Yu-Ming; Lo, Kuang-Yao.

Afiliación

Chang FM; Department of Physics, National Cheng Kung University, Tainan 701, Taiwan.

Nanotechnology ; 31(27): 275702, 2020 Apr 17.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-32217823

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2020 Tipo del documento: Article País de afiliación: Taiwán

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2020 Tipo del documento: Article País de afiliación: Taiwán