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A semi-empirical approach to calibrate simulation models for semiconductor devices.
Jaiswal, Rahul; Martínez-Ramón, Manel; Busani, Tito.
Afiliación
  • Jaiswal R; CHTM, University of New Mexico, 1313 Goddard St SE, Albuquerque, NM, 87106, USA.
  • Martínez-Ramón M; ECE, University of New Mexico, 498 Terrace St NE, Albuquerque, NM, 87106, USA.
  • Busani T; ECE, University of New Mexico, 498 Terrace St NE, Albuquerque, NM, 87106, USA.
Sci Rep ; 13(1): 10436, 2023 Jun 27.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37369728

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Sci Rep Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Sci Rep Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos