Measuring Single Atomic Defects in 2D Materials with Off-axis EELS Using Real-time AI-driven Detection.
Microsc Microanal
; 29(Supplement_1): 392-393, 2023 Jul 22.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-37613074
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Banco de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Diagnostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Microsc Microanal
Año:
2023
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Estados Unidos