Two-axis probing system for atomic force microscopy.

Jayanth, G R; Jhiang, Sissy M; Menq, Chia-Hsiang

Jayanth, G R; Jhiang, Sissy M; Menq, Chia-Hsiang.

Afiliación

Jayanth GR; Department of Mechanical Engineering, The Ohio State University, Columbus, Ohio 43210, USA.

Rev Sci Instrum ; 79(2 Pt 1): 023705, 2008 Feb.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18315303

Asunto(s)

Aumento de la Imagen/instrumentación; Magnetismo/instrumentación; Micromanipulación/instrumentación; Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Óptica y Fotónica/instrumentación; Transductores; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo; Reproducibilidad de los Resultados; Sensibilidad y Especificidad

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Texto completo: 1 Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Transductores / Aumento de la Imagen / Microscopía de Fuerza Atómica / Óptica y Fotónica / Magnetismo / Micromanipulación Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Evaluation_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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