Low-energy electron scattering in carbon-based materials analyzed by scanning transmission electron microscopy and its application to sample thickness determination. | J Microsc;243(1): 31-9, 2011 Jul. | MEDLINE

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Low-energy electron scattering in carbon-based materials analyzed by scanning transmission electron microscopy and its application to sample thickness determination.

Pfaff, M; Müller, E; Klein, M F G; Colsmann, A; Lemmer, U; Krzyzanek, V; Reichelt, R; Gerthsen, D.

Afiliación

Pfaff M; Laboratorium für Elektronenmikroskopie and Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Germany. marina.pfaff@kit.edu

J Microsc ; 243(1): 31-9, 2011 Jul.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21155995

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