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CT automated exposure control using a generalized detectability index.
Khobragade, P; Rupcich, Franco; Fan, Jiahua; Crotty, Dominic J; Kulkarni, Naveen M; O'Connor, Stacy D; Foley, W Dennis; Schmidt, Taly Gilat.
Afiliación
  • Khobragade P; Department of Biomedical Engineering, Marquette University and Medical College of Wisconsin, Milwaukee, WI, 53233, USA.
  • Rupcich F; GE Healthcare, Waukesha, WI, 53188, USA.
  • Fan J; GE Healthcare, Waukesha, WI, 53188, USA.
  • Crotty DJ; GE Healthcare, Waukesha, WI, 53188, USA.
  • Kulkarni NM; Medical College of Wisconsin, Milwaukee, WI, 53226, USA.
  • O'Connor SD; Medical College of Wisconsin, Milwaukee, WI, 53226, USA.
  • Foley WD; Medical College of Wisconsin, Milwaukee, WI, 53226, USA.
  • Schmidt TG; Department of Biomedical Engineering, Marquette University and Medical College of Wisconsin, Milwaukee, WI, 53233, USA.
Med Phys ; 46(1): 140-151, 2019 Jan.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-30417403
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Texto completo: 1 Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Tomografía Computarizada por Rayos X / Exposición a la Radiación Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Med Phys Año: 2019 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
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