Detalhe da pesquisa
1.
GaN atomic electric fields from a segmented STEM detector: Experiment and simulation.
J Microsc
; 2024 Feb 19.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-38372408
2.
Ultrathin Au-Alloy Nanowires at the Liquid-Liquid Interface.
Nano Lett
; 18(3): 1903-1907, 2018 03 14.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-29397751
3.
Nanoscopic Insights into InGaN/GaN Core-Shell Nanorods: Structure, Composition, and Luminescence.
Nano Lett
; 16(9): 5340-6, 2016 09 14.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-27517307
4.
Conventional transmission electron microscopy imaging beyond the diffraction and information limits.
Phys Rev Lett
; 113(9): 096101, 2014 Aug 29.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-25215995
5.
Influence of static atomic displacements on composition quantification of AlGaN/GaN heterostructures from HAADF-STEM images.
Microsc Microanal
; 20(5): 1463-70, 2014 Oct.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-25010567
6.
Correction to Ultrathin Au-Alloy Nanowires at the Liquid-Liquid Interface.
Nano Lett
; 18(6): 4059, 2018 06 13.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-29767531
7.
Atom counting based on Voronoi averaged STEM intensities using a crosstalk correction scheme.
Ultramicroscopy
; 256: 113867, 2024 Feb.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-37871357
8.
Dose efficient annular bright field contrast with the ISTEM method: A proof of principle demonstration.
Ultramicroscopy
; 245: 113661, 2023 Mar.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-36529039
9.
Towards the interpretation of a shift of the central beam in nano-beam electron diffraction as a change in mean inner potential.
Ultramicroscopy
; 236: 113503, 2022 Jun.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-35278874
10.
Angle-dependence of ADF-STEM intensities for chemical analysis of InGaN/GaN.
Ultramicroscopy
; 238: 113535, 2022 Aug.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-35526315
11.
Accurate measurement of strain at interfaces in 4D-STEM: A comparison of various methods.
Ultramicroscopy
; 221: 113196, 2021 Feb.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-33341079
12.
Accuracy and precision of position determination in ISTEM imaging of BaTiO3.
Ultramicroscopy
; 227: 113325, 2021 Aug.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-34045084
13.
Angle-resolved STEM using an iris aperture: Scattering contributions and sources of error for the quantitative analysis in Si.
Ultramicroscopy
; 221: 113175, 2021 Feb.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-33383361
14.
Precise measurement of the electron beam current in a TEM.
Ultramicroscopy
; 223: 113221, 2021 Apr.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-33588232
15.
4D-STEM at interfaces to GaN: Centre-of-mass approach & NBED-disc detection.
Ultramicroscopy
; 228: 113321, 2021 Sep.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-34175788
16.
Influence of plasmon excitations on atomic-resolution quantitative 4D scanning transmission electron microscopy.
Sci Rep
; 10(1): 17890, 2020 Oct 21.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-33087734
17.
Comparison of first moment STEM with conventional differential phase contrast and the dependence on electron dose.
Ultramicroscopy
; 203: 95-104, 2019 Aug.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-30660404
18.
Influence of distortions of recorded diffraction patterns on strain analysis by nano-beam electron diffraction.
Ultramicroscopy
; 196: 74-82, 2019 01.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-30291992
19.
Using molecular dynamics for multislice TEM simulation of thermal diffuse scattering in AlGaN.
Ultramicroscopy
; 189: 124-135, 2018 06.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-29660631
20.
Quantitative HAADF STEM of SiGe in presence of amorphous surface layers from FIB preparation.
Ultramicroscopy
; 184(Pt B): 29-36, 2018 01.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-29078105