Cluster ion beam generation from a wetted needle emitter for organic secondary ion mass spectrometry (organic SIMS) using a protic ionic liquid, propylammonium nitrate.

Fujiwara, Yukio; Saito, Naoaki

Fujiwara, Yukio; Saito, Naoaki.

Afiliação

Fujiwara Y; National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba Central 2, 1-1-1 Umezono, Tsukuba-shi, Ibaraki-ken, 305-8568, Japan.
Saito N; National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba Central 2, 1-1-1 Umezono, Tsukuba-shi, Ibaraki-ken, 305-8568, Japan.

Rapid Commun Mass Spectrom ; 32(21): 1867-1874, 2018 Nov 15.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-30085370

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