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Thermal evolution characterizatics of atomic layer deposition prepared TiO2 interfacial layer by synchrotron radiation X-ray scattering.
Park, Yong Jun; Na, Kil-Ju; Park, Gye-Choon; Kim, Richard S; Anderson, Timothy J.
Afiliação
  • Park YJ; Department of MSE, POSTECH, Pohang, Gyeongbuk, South Korea.
J Nanosci Nanotechnol ; 13(6): 4207-10, 2013 Jun.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23862474
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article País de afiliação: Coréia do Sul
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