Assessment of Polarity in GaN Self-Assembled Nanowires by Electrical Force Microscopy.

Minj, A; Cros, A; Garro, N; Colchero, J; Auzelle, T; Daudin, B

Minj, A; Cros, A; Garro, N; Colchero, J; Auzelle, T; Daudin, B.

Afiliação

Minj A; Materials Science Institute, University of Valencia , P.O. Box 22085, E46071 Valencia, Spain.
Cros A; Materials Science Institute, University of Valencia , P.O. Box 22085, E46071 Valencia, Spain.
Garro N; Materials Science Institute, University of Valencia , P.O. Box 22085, E46071 Valencia, Spain.
Colchero J; Facultad de Química, Departamento de Física, Universidad de Murcia , 30100 Murcia, Spain.
Auzelle T; Université Grenoble Alpes, INAC-SP2M , F-38000 Grenoble, France.
Daudin B; CEA, INAC-SP2M , F-38054 Grenoble, France.

Nano Lett ; 15(10): 6770-6, 2015 Oct 14.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26380860

Palavras-chave

GaN; Kelvin probe force microscopy; Nanowire; piezo force microscopy; polarity; surface photovoltage

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article País de afiliação: Espanha

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google