In Situ Sputtering From the Micromanipulator to Enable Cryogenic Preparation of Specimens for Atom Probe Tomography by Focused-Ion Beam.
Microsc Microanal
; 29(3): 1009-1017, 2023 Jun 09.
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Idioma:
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Revista:
Microsc Microanal
Ano de publicação:
2023
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