Enhanced Eshelby twist on thin Wurtzite InP nanowires and measurement of local crystal rotation.

We have performed a detailed study of the lattice distortions of InP wurtzite nanowires containing an axial screw dislocation. Eshelby predicted that this kind of system should show a crystal rotation due to the dislocation induced torque. We have measured the twisting rate and the dislocation Burgers vector on individual wires, revealing that nanowires with a 10-nm radius have a twist up to 100% larger than estimated from elasticity theory. The strain induced by the deformation has a Mexican-hat-like geometry, which may create a tube-like potential well for carriers.

Análise de radioelementos, a níveis de traços, utilizando espectrometria de massa de íons secundários / Analysis of radioelements by levels of traits using mass spectrometry of secundary ions

A espectrometria de massa de íons secundários (SIMS) permite a detecção rápida de elementos estáveis ou radioativos, bem como o cálculo de seu percentual isotópico. Ademais, essa técnica possibilita a localização de radioisótipos, à níveis de traços, em amostras biológicas. Neste trabalho procurou-se estudar a utilização dessa metodologia na detecção de urânio natural à baixa concentração. Estudos sobre a preparação de amostras e limites de detecção foram também realizados.