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Out-of-focus background subtraction for fast structured illumination super-resolution microscopy of optically thick samples.
Vermeulen, P; Zhan, H; Orieux, F; Olivo-Marin, J-C; Lenkei, Z; Loriette, V; Fragola, A.
Affiliation
  • Vermeulen P; Laboratoire de physique et d'tude des matériaux, CNRS UMR 8213, ESPCI ParisTech, 10 rue Vauquelin, 75005, Paris, France.
  • Zhan H; Institut de biologie de l'Ecole Normale Supérieure Paris, INSERM U1024, 46 rue d'Ulm, 75005, Paris, France.
  • Orieux F; Institut d'astrophysique de Paris, UMR 7095, 98 boulevard Arago, 75014, Paris, France.
  • Olivo-Marin JC; Unit d'analyse d'images quantitatives, Institut Pasteur - CNRS URA 2582 25, rue du docteur Roux, 75015, Paris, France.
  • Lenkei Z; Laboratoire Plasticité du cerveau, CNRS UMR 8249, ESPCI ParisTech, 10 rue Vauquelin, 75005, Paris, France.
  • Loriette V; Laboratoire de physique et d'tude des matériaux, CNRS UMR 8213, ESPCI ParisTech, 10 rue Vauquelin, 75005, Paris, France.
  • Fragola A; Laboratoire de physique et d'tude des matériaux, CNRS UMR 8213, ESPCI ParisTech, 10 rue Vauquelin, 75005, Paris, France.
J Microsc ; 259(3): 257-68, 2015 Sep.
Article in En | MEDLINE | ID: mdl-25925333
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Full text: 1 Collection: 01-internacional Database: MEDLINE Language: En Journal: J Microsc Year: 2015 Document type: Article Affiliation country: Country of publication:
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