A device for quality evaluation of operational parameters in mammography X-ray tubes / Um dispositivo para avaliação de qualidade de parâmetros operacionais em tubos de raios X mamográficos

RESUMO

Esse trabalho descreve o desenvolvimento de um sistema para medição de importantes parâmetros operacionais de equipamentos mamográficos, como kVp, corrente de tubo, tempo de exposição, dose e camada semi-redutora (CSR) em qualquer posição do campo. Esse sistema baseia-se num dispositivo com sensor semicondutor de Si, posicionado sob o tubo de raios X (sobre a mesinha do equipamento,por exemplo), que detecta os fótons e produz uma correnteelétrica proporcional à intensidade do feixe. Esse sinal é enviado a uma placa digitalizadora acoplada a um notebook no qual um software realiza sua leitura e tratamento. A medição da kVp se baseia na relação entre dois sinais, um filtrado e outro não (referência) a partir do mesmo sensor. Esse sinal é obtido detectando-se a saída do sensor sobre o qual gira uma cunha de alumínio circular durante uma exposição de raios X. Com uma única exposição, o software permite determinar os parâmetros pela análise desse sinal. Além disso, a CSR em qualquer posição do campo pode ser determinada a partir de um procedimento de simulação computacional desenvolvido previamente. Curvas de calibração são armazenadas para queo software compare a leitura real do sensor com os dados armazenados para determinar a precisão de operação do tubo sob investigação. Testes de desenvolvimento com uma unidade Trex Medical Contour 2000 mostraram que a resposta do sistema é concordante com dispositivos calibrados usados para verificar os parâmetros. Uma vantagem desse sistema é a possibilidade de armazenar umagrande quantidade de informações requisitadas por programas de controle de qualidade.

ABSTRACT

This work describes the development of a system designed to measure important operational parameters of mammography equipment, as kVp, tube current, exposure time, dose and half-value layer (HVL) in any field location. This system is based on a device with a Si semiconductor sensor, placed under the X-ray tube (over the unit table, for example), which detects the X-ray photons...