Precision Measurement of Electroweak Effects in e+e---> micro+ micro- at sqrt s =29 GeV.
Phys Rev Lett
; 55(18): 1831-1834, 1985 Oct 28.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-10031938
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Año:
1985
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
EEUU
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