Measuring surface stress discontinuities in self-organized systems with X rays. | Phys Rev Lett;88(5): 056103, 2002 Feb 04. | MEDLINE

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

Portal Regional de la BVS

Información y Conocimiento para la Salud

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada EVID@Easy

Measuring surface stress discontinuities in self-organized systems with X rays.

Croset, B; Girard, Y; Prévot, G; Sotto, M; Garreau, Y; Pinchaux, R; Sauvage-Simkin, M.

Afiliación

Croset B; Groupe de Physique des Solides, Universités Paris 6 et 7, UMR-CNRS 75-88, 2 place Jussieu, 75251 Paris Cedex 05, France.

Phys Rev Lett ; 88(5): 056103, 2002 Feb 04.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-11863753

Buscar en Google

Añadir a Mi BVS

Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2002 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia

Buscar en Google

Añadir a Mi BVS

Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2002 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia