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Polarizing properties of embedded symmetric trilayer stacks under conditions of frustrated total internal reflection.
Azzam, Rasheed M A; Perla, Siva R.
Afiliación
  • Azzam RM; Department of Electrical Engineering, University of New Orleans, New Orleans, Louisiana 70148, USA. razzam@uno.edu
Appl Opt ; 45(7): 1650-6, 2006 Mar 01.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-16539273
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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 2006 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos
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