Static-charging mitigation and contamination avoidance by selective carbon coating of TEM samples.
Ultramicroscopy
; 106(11-12): 981-5, 2006.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-16870340
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Ultramicroscopy
Año:
2006
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Alemania
Pais de publicación:
Países Bajos