Topography imaging with a heated atomic force microscope cantilever in tapping mode. | Rev Sci Instrum;78(4): 043709, 2007 Apr. | MEDLINE

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Topography imaging with a heated atomic force microscope cantilever in tapping mode.

Park, Keunhan; Lee, Jungchul; Zhang, Zhuomin M; King, William P.

Afiliación

Park K; Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332, USA. wpk@uiuc.edu

Rev Sci Instrum ; 78(4): 043709, 2007 Apr.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-17477672

Asunto(s)

Microscopía de Fuerza Atómica; Calibración; Calor; Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Microscopía de Fuerza Atómica/normas

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía de Fuerza Atómica Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2007 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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