Characterization of spectroscopic photoemission and low energy electron microscope using multipolarized soft x rays at BL17SU/SPring-8.

Guo, F Z; Muro, T; Matsushita, T; Wakita, T; Ohashi, H; Senba, Y; Kinoshita, T; Kobayashi, K; Saitoh, Y; Koshikawa, T; Yasue, T; Oura, M; Takeuchi, T; Shin, S

Guo, F Z; Muro, T; Matsushita, T; Wakita, T; Ohashi, H; Senba, Y; Kinoshita, T; Kobayashi, K; Saitoh, Y; Koshikawa, T; Yasue, T; Oura, M; Takeuchi, T; Shin, S.

Afiliación

Guo FZ; JASRI/SPring-8, Kouto 1-1-1, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo 679-5198, Japan. fz-guo@spring8.or.jp

Rev Sci Instrum ; 78(6): 066107, 2007 Jun.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-17614651

Asunto(s)

Microscopía Electrónica/instrumentación; Refractometría/instrumentación; Espectrometría por Rayos X/instrumentación; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo; Microscopía Electrónica/métodos; Refractometría/métodos; Reproducibilidad de los Resultados; Sensibilidad y Especificidad; Espectrometría por Rayos X/métodos

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Refractometría / Espectrometría por Rayos X / Microscopía Electrónica Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2007 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón Pais de publicación: Estados Unidos

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