Quantitative molecular depth profiling of organic delta-layers by C60 ion sputtering and SIMS. | J Phys Chem B;112(9): 2596-605, 2008 Mar 06. | MEDLINE

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Quantitative molecular depth profiling of organic delta-layers by C60 ion sputtering and SIMS.

Shard, Alexander G; Green, Felicia M; Brewer, Paul J; Seah, Martin P; Gilmore, Ian S.

Afiliación

Shard AG; National Physical Laboratory, Teddington, Middlesex, TW11 0LW, UK. alex.shard@npl.co.uk

J Phys Chem B ; 112(9): 2596-605, 2008 Mar 06.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18254619

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Phys Chem B Asunto de la revista: QUIMICA Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido Pais de publicación: Estados Unidos

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