Comparative study of the roughness of optical surfaces and thin films by use of X-ray scattering and atomic force microscopy. | Appl Opt;38(4): 684-91, 1999 Feb 01. | MEDLINE

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Comparative study of the roughness of optical surfaces and thin films by use of X-ray scattering and atomic force microscopy.

Asadchikov, V E; Duparré, A; Jakobs, S; Karabekov, A Y; Kozhevnikov, I V; Krivonosov, Y S.

Afiliación

Asadchikov VE; Institute of Crystallography, Leninsky prospect 59, Moscow 117333 Russia.

Appl Opt ; 38(4): 684-91, 1999 Feb 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18305664

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 1999 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos

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