High reflectivity gratings on silicon-on-insulator waveguide facets.

Schmid, J H; Cheben, P; Lapointe, J; Janz, S; Delâge, A; Densmore, A; Xu, D X

Schmid, J H; Cheben, P; Lapointe, J; Janz, S; Delâge, A; Densmore, A; Xu, D X.

Afiliación

Schmid JH; Institute for Microstructural Sciences, National Research Council Canada, Ottawa, Ontario, Canada. jens.schmid@nrc-cnrc.gc.ca

Opt Express ; 16(21): 16481-8, 2008 Oct 13.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18852755

Asunto(s)

Nanoestructuras/química; Dispositivos Ópticos; Refractometría/instrumentación; Silicio/química; Conductividad Eléctrica; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo; Nanoestructuras/ultraestructura

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Refractometría / Silicio / Nanoestructuras / Dispositivos Ópticos Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Canadá Pais de publicación: Estados Unidos

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