Imaging molecular orbitals by scanning tunneling microscopy on a passivated semiconductor.

Bellec, Amandine; Ample, Francisco; Riedel, Damien; Dujardin, Gérald; Joachim, Christian

Bellec, Amandine; Ample, Francisco; Riedel, Damien; Dujardin, Gérald; Joachim, Christian.

Afiliación

Bellec A; Laboratoire de Photophysique Moleculaire, CNRS, Bat. 210, Universite Paris Sud, 91405 Orsay, France, and CEMES-CNRS, 29 rue J. Marvig, P.O. Box 4347, F-31055 Toulouse Cedex, France. amandine.bellec@u-psud.fr

Nano Lett ; 9(1): 144-7, 2009 Jan.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19090685

Asunto(s)

Electroquímica/métodos; Aumento de la Imagen/métodos; Microscopía de Túnel de Rastreo/métodos; Técnicas de Sonda Molecular; Nanoestructuras/química; Nanoestructuras/ultraestructura; Nanotecnología/métodos; Ensayo de Materiales/métodos; Tamaño de la Partícula; Semiconductores

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Aumento de la Imagen / Microscopía de Túnel de Rastreo / Técnicas de Sonda Molecular / Nanotecnología / Nanoestructuras / Electroquímica Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia

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