Design of an aberration corrected low-voltage SEM.

van Aken, R H; Maas, D J; Hagen, C W; Barth, J E; Kruit, P

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

Portal Regional de la BVS

Información y Conocimiento para la Salud

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada EVID@Easy

Design of an aberration corrected low-voltage SEM.

van Aken, R H; Maas, D J; Hagen, C W; Barth, J E; Kruit, P.

Afiliación

van Aken RH; Delft University of Technology, Department of Applied Physics, Charged Particle Optics Group, Lorentzweg 1, 2628CJ Delft, The Netherlands.

Ultramicroscopy ; 110(11): 1411-9, 2010 Oct.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20728276

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Países Bajos