Recent trends in surface characterization and chemistry with high-resolution scanning force methods.

Barth, Clemens; Foster, Adam S; Henry, Claude R; Shluger, Alexander L

Barth, Clemens; Foster, Adam S; Henry, Claude R; Shluger, Alexander L.

Afiliación

Barth C; Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille, Aix-Marseille University, CNRS, Marseille, France. barth@cinam.univ-mrs.fr

Adv Mater ; 23(4): 477-501, 2011 Jan 25.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21254251

Asunto(s)

Microscopía de Fuerza Atómica/instrumentación; Microscopía de Fuerza Atómica/tendencias; Diseño de Equipo; Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Propiedades de Superficie

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía de Fuerza Atómica Idioma: En Revista: Adv Mater Asunto de la revista: BIOFISICA / QUIMICA Año: 2011 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia

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