Effect on thickness of Al layer in poly-crystalline Si thin films using aluminum(Al) induced crystallization method.
J Nanosci Nanotechnol
; 11(2): 1350-3, 2011 Feb.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-21456186
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
J Nanosci Nanotechnol
Año:
2011
Tipo del documento:
Article