Effect on thickness of Al layer in poly-crystalline Si thin films using aluminum(Al) induced crystallization method. | J Nanosci Nanotechnol;11(2): 1350-3, 2011 Feb. | MEDLINE

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Effect on thickness of Al layer in poly-crystalline Si thin films using aluminum(Al) induced crystallization method.

Jeong, Chaehwan; Na, Hyeon Sik; Lee, Suk Ho.

Afiliación

Jeong C; Photonics Industrial Technology Center, Korea Institute of Industrial Technology (KITECH), Gwangju 506-824, Korea.

J Nanosci Nanotechnol ; 11(2): 1350-3, 2011 Feb.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21456186

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Año: 2011 Tipo del documento: Article

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