Ion-induced nanopatterns on semiconductor surfaces investigated by grazing incidence x-ray scattering techniques. | J Phys Condens Matter;21(22): 224007, 2009 Jun 03. | MEDLINE

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Ion-induced nanopatterns on semiconductor surfaces investigated by grazing incidence x-ray scattering techniques.

Carbone, D; Biermanns, A; Ziberi, B; Frost, F; Plantevin, O; Pietsch, U; Metzger, T H.

Afiliación

Carbone D; ID01, ESRF, 6 rue Jules Horowitz, F-38043 Grenoble Cedex, France.

J Phys Condens Matter ; 21(22): 224007, 2009 Jun 03.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21715746

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Incidence_studies / Risk_factors_studies Idioma: En Revista: J Phys Condens Matter Asunto de la revista: BIOFISICA Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia Pais de publicación: Reino Unido

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Incidence_studies / Risk_factors_studies Idioma: En Revista: J Phys Condens Matter Asunto de la revista: BIOFISICA Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia Pais de publicación: Reino Unido