Your browser doesn't support javascript.
loading
Multi-beam confocal microscopy based on a custom image sensor with focal-plane pinhole array effect.
Kagawa, Keiichiro; Seo, Min-Woong; Yasutomi, Keita; Terakawa, Susumu; Kawahito, Shoji.
Afiliación
  • Kagawa K; Research Institute of Electronics, Shizuoka University, 3-5-1 Johoku, Naka-ku, Hamamatsu, Shizuoka 432-8011, Japan. kagawa@idl.rie.shizuoka.ac.jp
Opt Express ; 21(2): 1417-29, 2013 Jan 28.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23389123
Asunto(s)
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Semiconductores / Transductores / Procesamiento de Señales Asistido por Computador / Iluminación / Aumento de la Imagen / Microscopía Confocal Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón Pais de publicación: Estados Unidos
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Semiconductores / Transductores / Procesamiento de Señales Asistido por Computador / Iluminación / Aumento de la Imagen / Microscopía Confocal Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón Pais de publicación: Estados Unidos