Investigation on properties of electron-beam treated Mo back contact layer prepared by DC sputtering method. | J Nanosci Nanotechnol;13(8): 5424-7, 2013 Aug. | MEDLINE

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

Portal Regional de la BVS

Información y Conocimiento para la Salud

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada EVID@Easy

Investigation on properties of electron-beam treated Mo back contact layer prepared by DC sputtering method.

Kim, Chae-Woong; Jeong, Chaehwan.

Afiliación

Kim CW; Applied Optics and Energy Research Group, Korea Institute of Industrial Technology, 1110-9 Oryong-dong, Buk-gu, Gwangju 500-480, Korea.

J Nanosci Nanotechnol ; 13(8): 5424-7, 2013 Aug.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23882773

Buscar en Google

Añadir a Mi BVS

Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Año: 2013 Tipo del documento: Article

Buscar en Google

Añadir a Mi BVS

Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Año: 2013 Tipo del documento: Article