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Retrospective cohort study of a microelectronics and business machine facility.
Silver, Sharon R; Pinkerton, Lynne E; Fleming, Donald A; Jones, James H; Allee, Steven; Luo, Lian; Bertke, Stephen J.
Afiliación
  • Silver SR; Division of Surveillance, Hazard Assessment and Field Studies, National Institute for Occupational Safety and Health, Cincinnati, Ohio.
Am J Ind Med ; 57(4): 412-24, 2014 Apr.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24375784

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Tetracloroetileno / Computadores / Exposición Profesional / Electrónica / Neoplasias / Enfermedades del Sistema Nervioso / Enfermedades Profesionales Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Etiology_studies / Incidence_studies / Observational_studies / Prognostic_studies / Risk_factors_studies Límite: Adult / Female / Humans / Male / Middle aged Idioma: En Revista: Am J Ind Med Año: 2014 Tipo del documento: Article

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Tetracloroetileno / Computadores / Exposición Profesional / Electrónica / Neoplasias / Enfermedades del Sistema Nervioso / Enfermedades Profesionales Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Etiology_studies / Incidence_studies / Observational_studies / Prognostic_studies / Risk_factors_studies Límite: Adult / Female / Humans / Male / Middle aged Idioma: En Revista: Am J Ind Med Año: 2014 Tipo del documento: Article