Experimental test and life estimation of the OLED at normal working stress based on the luminance degradation model.

Zhang, J P; Wang, C; Chen, X; Cheng, G L; Qiu, Y J; Shen, M-H H

Zhang, J P; Wang, C; Chen, X; Cheng, G L; Qiu, Y J; Shen, M-H H.

Afiliación

Zhang JP; College of Energy and Mechanical Engineering, Shanghai University of Electric Power, Shanghai, 200090, China.

Luminescence ; 30(4): 371-5, 2015 Jun.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25044460

Asunto(s)

Iluminación/instrumentación; Modelos Teóricos; Diseño de Equipo; Análisis de los Mínimos Cuadrados

Palabras clave

OLED; Weibull function; life estimation; luminance degradation model; normal stress

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Iluminación / Modelos Teóricos Tipo de estudio: Qualitative_research Aspecto: Patient_preference Idioma: En Revista: Luminescence Asunto de la revista: BIOFISICA / BIOQUIMICA Año: 2015 Tipo del documento: Article País de afiliación: China Pais de publicación: Reino Unido

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