Soft x-ray intensity profile measurements of electron cyclotron heated plasmas using semiconductor detector arrays in GAMMA 10 tandem mirror.
Rev Sci Instrum
; 85(11): 11D807, 2014 Nov.
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| ID: mdl-25430220
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Rev Sci Instrum
Año:
2014
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Japón
Pais de publicación:
Estados Unidos