Fast IR laser mapping ellipsometry for the study of functional organic thin films.

Furchner, Andreas; Sun, Guoguang; Ketelsen, Helge; Rappich, Jörg; Hinrichs, Karsten

Furchner, Andreas; Sun, Guoguang; Ketelsen, Helge; Rappich, Jörg; Hinrichs, Karsten.

Afiliación

Furchner A; Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften - ISAS - e. V., Schwarzschildstraße 8, 12489 Berlin, Germany. andreas.furchner@isas.de.

Analyst ; 140(6): 1791-7, 2015 Mar 21.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25668189

Asunto(s)

Resinas Acrílicas/química; Rayos Láser; Espectroscopía Infrarroja por Transformada de Fourier/instrumentación; Tiofenos/química; Diseño de Equipo; Espectroscopía Infrarroja por Transformada de Fourier/economía; Factores de Tiempo

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Tiofenos / Resinas Acrílicas / Espectroscopía Infrarroja por Transformada de Fourier / Rayos Láser Idioma: En Revista: Analyst Año: 2015 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Reino Unido

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