An optical monitoring method for depositing dielectric layers of arbitrary thickness using reciprocal of transmittance.
Opt Express
; 23(4): 4703-14, 2015 Feb 23.
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en En
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| ID: mdl-25836507
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Opt Express
Asunto de la revista:
OFTALMOLOGIA
Año:
2015
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos