Your browser doesn't support javascript.
loading
Failure of Standard Training Sets in the Analysis of Fast-Scan Cyclic Voltammetry Data.
Johnson, Justin A; Rodeberg, Nathan T; Wightman, R Mark.
Afiliación
  • Johnson JA; Department of Chemistry and ‡Neuroscience Center and Neurobiology Curriculum, University of North Carolina at Chapel Hill , Chapel Hill, North Carolina 27599-3290, United States.
  • Rodeberg NT; Department of Chemistry and ‡Neuroscience Center and Neurobiology Curriculum, University of North Carolina at Chapel Hill , Chapel Hill, North Carolina 27599-3290, United States.
  • Wightman RM; Department of Chemistry and ‡Neuroscience Center and Neurobiology Curriculum, University of North Carolina at Chapel Hill , Chapel Hill, North Carolina 27599-3290, United States.
ACS Chem Neurosci ; 7(3): 349-59, 2016 Mar 16.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-26758246

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Dopamina / Análisis de Componente Principal / Técnicas Electroquímicas Tipo de estudio: Prognostic_studies Límite: Animals Idioma: En Revista: ACS Chem Neurosci Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Dopamina / Análisis de Componente Principal / Técnicas Electroquímicas Tipo de estudio: Prognostic_studies Límite: Animals Idioma: En Revista: ACS Chem Neurosci Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos