Hybrid Organic/Inorganic Materials Depth Profiling Using Low Energy Cesium Ions. | J Am Soc Mass Spectrom;27(5): 908-16, 2016 May. | MEDLINE

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Hybrid Organic/Inorganic Materials Depth Profiling Using Low Energy Cesium Ions.

Noël, Céline; Houssiau, Laurent.

Afiliación

Noël C; Research Centre in Physics of Matter and Radiation, University of Namur, Namur, Belgium.
Houssiau L; Research Centre in Physics of Matter and Radiation, University of Namur, Namur, Belgium. Laurent.houssiau@unamur.be.

J Am Soc Mass Spectrom ; 27(5): 908-16, 2016 May.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-26883532

Palabras clave

Cesium; Depth profiling; Hybrid materials; OLEDs; OPVs; Organic electronics; SIMS

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Am Soc Mass Spectrom Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Bélgica

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