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Bayesian test for hazard ratio in survival analysis.
Kim, Gwangsu; Lee, Seong-Whan.
Afiliación
  • Kim G; Department of Statistics, Seoul National University, 1 Gwanak-ro, Seoul, 151-742 Korea.
  • Lee SW; Department of Brain and Cognitive Engineering, Korea University, 145 Anam-ro, Seoul, 136-713 Korea.
Springerplus ; 5: 649, 2016.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-27330915

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Springerplus Año: 2016 Tipo del documento: Article

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Springerplus Año: 2016 Tipo del documento: Article