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Direct Evidence of Lithium Ion Migration in Resistive Switching of Lithium Cobalt Oxide Nanobatteries.
Nguyen, Van Son; Mai, Van Huy; Auban Senzier, Pascale; Pasquier, Claude; Wang, Kang; Rozenberg, Marcelo J; Brun, Nathalie; March, Katia; Jomard, François; Giapintzakis, John; Mihailescu, Cristian N; Kyriakides, Evripides; Nukala, Pavan; Maroutian, Thomas; Agnus, Guillaume; Lecoeur, Philippe; Matzen, Silvia; Aubert, Pascal; Franger, Sylvain; Salot, Raphaël; Albouy, Pierre-Antoine; Alamarguy, David; Dkhil, Brahim; Chrétien, Pascal; Schneegans, Olivier.
Afiliación
  • Nguyen VS; Laboratoire de Génie Electrique et Electronique de Paris, CNRS, CentraleSupélec, Universités UPMC et Paris-Sud, 11 rue Joliot-Curie, 91192, Gif-sur-Yvette, France.
  • Mai VH; Department of Optical Electronic Devices, Le Quy Don Technical University, 236 Hoang Quoc Viet, Hanoi, Vietnam.
  • Auban Senzier P; Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, bât 510, 91405, Orsay, France.
  • Pasquier C; Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, bât 510, 91405, Orsay, France.
  • Wang K; Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, bât 510, 91405, Orsay, France.
  • Rozenberg MJ; Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, bât 510, 91405, Orsay, France.
  • Brun N; Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, bât 510, 91405, Orsay, France.
  • March K; Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, bât 510, 91405, Orsay, France.
  • Jomard F; Groupe d'Étude de la Matière Condensée, Université de Versailles Saint-Quentin-En-Yvelines, Bat Fermat, 45 Avenue des Etats-Unis, 78035, Versailles, France.
  • Giapintzakis J; Department of Mechanical and Manufacturing Engineering, University of Cyprus, 75 Kallipoleos Avenue, PO Box 20537, 1678, Nicosia, Cyprus.
  • Mihailescu CN; Department of Mechanical and Manufacturing Engineering, University of Cyprus, 75 Kallipoleos Avenue, PO Box 20537, 1678, Nicosia, Cyprus.
  • Kyriakides E; National Institute for Laser Plasma and Radiation Physics, 409 Atomistilor Street, PO Box MG-36, 077125, Magurele, Romania.
  • Nukala P; Department of Mechanical and Manufacturing Engineering, University of Cyprus, 75 Kallipoleos Avenue, PO Box 20537, 1678, Nicosia, Cyprus.
  • Maroutian T; Laboratoire Structures, Propriétés et Modélisation des Solides CentraleSupélec, 3 rue Joliot-Curie, 91190, Gif-Sur-Yvette, France.
  • Agnus G; Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies, CNRS et Université Paris-Sud, Bât 220, rue André Ampère, 91405, Orsay, France.
  • Lecoeur P; Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies, CNRS et Université Paris-Sud, Bât 220, rue André Ampère, 91405, Orsay, France.
  • Matzen S; Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies, CNRS et Université Paris-Sud, Bât 220, rue André Ampère, 91405, Orsay, France.
  • Aubert P; Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies, CNRS et Université Paris-Sud, Bât 220, rue André Ampère, 91405, Orsay, France.
  • Franger S; Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies, CNRS et Université Paris-Sud, Bât 220, rue André Ampère, 91405, Orsay, France.
  • Salot R; Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay, Bât 410, rue du doyen Georges Poitou, 91405, Orsay, France.
  • Albouy PA; Laboratoire Microbatteries Embarquées, CEA de Grenoble, 17 Avenue des Martyrs, 38054, Grenoble, France.
  • Alamarguy D; Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris-Sud, bât 510, 91405, Orsay, France.
  • Dkhil B; Laboratoire de Génie Electrique et Electronique de Paris, CNRS, CentraleSupélec, Universités UPMC et Paris-Sud, 11 rue Joliot-Curie, 91192, Gif-sur-Yvette, France.
  • Chrétien P; Laboratoire Structures, Propriétés et Modélisation des Solides CentraleSupélec, 3 rue Joliot-Curie, 91190, Gif-Sur-Yvette, France.
  • Schneegans O; Laboratoire de Génie Electrique et Electronique de Paris, CNRS, CentraleSupélec, Universités UPMC et Paris-Sud, 11 rue Joliot-Curie, 91192, Gif-sur-Yvette, France.
Small ; 14(24): e1801038, 2018 Jun.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29770993

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Small Asunto de la revista: ENGENHARIA BIOMEDICA Año: 2018 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Small Asunto de la revista: ENGENHARIA BIOMEDICA Año: 2018 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia