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Mobile C-Arm with a CMOS detector: Technical assessment of fluoroscopy and Cone-Beam CT imaging performance.
Sheth, Niral M; Zbijewski, Wojciech; Jacobson, Matthew W; Abiola, Godwin; Kleinszig, Gerhard; Vogt, Sebastian; Soellradl, Stefan; Bialkowski, Jens; Anderson, William S; Weiss, Clifford R; Osgood, Greg M; Siewerdsen, Jeffrey H.
Afiliación
  • Sheth NM; Department of Biomedical Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD, USA.
  • Zbijewski W; Department of Biomedical Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD, USA.
  • Jacobson MW; Department of Biomedical Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD, USA.
  • Abiola G; Department of Radiology, Johns Hopkins Medical Institutions, Baltimore, MD, USA.
  • Kleinszig G; Siemens Healthineers, Erlangen, Germany.
  • Vogt S; Siemens Healthineers, Erlangen, Germany.
  • Soellradl S; Siemens Healthineers, Erlangen, Germany.
  • Bialkowski J; Siemens Healthineers, Erlangen, Germany.
  • Anderson WS; Department of Neurosurgery, Johns Hopkins Medical Institutions, Baltimore, MD, USA.
  • Weiss CR; Department of Radiology, Johns Hopkins Medical Institutions, Baltimore, MD, USA.
  • Osgood GM; Department of Orthopaedic Surgery, Johns Hopkins Medical Institutions, Baltimore, MD, USA.
  • Siewerdsen JH; Department of Biomedical Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD, USA.
Med Phys ; 45(12): 5420-5436, 2018 Dec.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-30339271
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Óxidos / Semiconductores / Fluoroscopía / Tomografía Computarizada de Haz Cónico / Metales Límite: Humans Idioma: En Revista: Med Phys Año: 2018 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Óxidos / Semiconductores / Fluoroscopía / Tomografía Computarizada de Haz Cónico / Metales Límite: Humans Idioma: En Revista: Med Phys Año: 2018 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos