Stationary beam full-field transmission helium ion microscopy using sub-50 keV He+: Projected images and intensity patterns.
Beilstein J Nanotechnol
; 10: 1648-1657, 2019.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-31467826
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Beilstein J Nanotechnol
Año:
2019
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Luxemburgo
Pais de publicación:
Alemania