A method for constrained optimisation of the design of a scanning helium microscope.

Bergin, M; Ward, D J; Ellis, J; Jardine, A P

Bergin, M; Ward, D J; Ellis, J; Jardine, A P.

Afiliación

Bergin M; Cavendish Laboratory, JJ Thomson Avenue, Cambridge, UK. Electronic address: mb802@cam.ac.uk.
Ward DJ; Cavendish Laboratory, JJ Thomson Avenue, Cambridge, UK.
Ellis J; Cavendish Laboratory, JJ Thomson Avenue, Cambridge, UK.
Jardine AP; Cavendish Laboratory, JJ Thomson Avenue, Cambridge, UK.

Ultramicroscopy ; 207: 112833, 2019 Dec.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-31494478

Palabras clave

Atomic microscopy; Constrained optimisation; Fresnel zone plate; Neutral atom microscope; Scanning helium microscopy

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2019 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Países Bajos

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