Direct Nanomachining on Semiconductor Wafer By Scanning Electrochemical Microscopy.
Angew Chem Int Ed Engl
; 59(47): 21129-21134, 2020 Nov 16.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-32737918
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Angew Chem Int Ed Engl
Año:
2020
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
China
Pais de publicación:
Alemania