Electromagnetic Analysis of Vertical Resistive Memory with a Sub-nm Thick Electrode.
Nanomaterials (Basel)
; 10(9)2020 Aug 20.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-32825304
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Nanomaterials (Basel)
Año:
2020
Tipo del documento:
Article