The impact of focused ion beam induced damage on scanning spreading resistance microscopy measurements.
Sci Rep
; 10(1): 14893, 2020 Sep 10.
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| ID: mdl-32913186
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Sci Rep
Año:
2020
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Bélgica