Infrared spectroscopy depth profiling of organic thin films. | Mater Horiz;8(5): 1461-1471, 2021 May 01. | MEDLINE

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Infrared spectroscopy depth profiling of organic thin films.

Yu, Jinde; Xing, Yifan; Shen, Zichao; Zhu, Yuanwei; Neher, Dieter; Koch, Norbert; Lu, Guanghao.

Afiliación

Yu J; Frontier Institute of Science and Technology and State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi'an Jiaotong University, Xi'an, 710054, China. guanghao.lu@xjtu.edu.cn.

Mater Horiz ; 8(5): 1461-1471, 2021 May 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-34846454

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Mater Horiz Año: 2021 Tipo del documento: Article País de afiliación: China Pais de publicación: Reino Unido

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