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Rearrangement Zone around a Crack Tip in a Double Self-Assembled Transient Network.
Foyart, Guillaume; Ligoure, Christian; Mora, Serge; Ramos, Laurence.
Afiliación
  • Foyart G; Laboratoire Charles Coulomb UMR 5221, CNRS, Université de Montpellier, F-34095 Montpellier, France.
  • Ligoure C; Laboratoire Charles Coulomb UMR 5221, CNRS, Université de Montpellier, F-34095 Montpellier, France.
  • Mora S; Laboratoire de Mécanique et de Génie Civil, UMR 5508, Université de Montpellier and CNRS, 163 Rue Auguste Broussonnet, F-34090 Montpellier, France.
  • Ramos L; Laboratoire Charles Coulomb UMR 5221, CNRS, Université de Montpellier, F-34095 Montpellier, France.
ACS Macro Lett ; 5(10): 1080-1083, 2016 Oct 18.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-35658184
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Macro Lett Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia Pais de publicación: Estados Unidos
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