AC Kelvin Probe Force Microscopy Enables Charge Mapping in Water.

Hackl, Thomas; Schitter, Georg; Mesquida, Patrick

Hackl, Thomas; Schitter, Georg; Mesquida, Patrick.

Afiliación

Hackl T; Automation and Control Institute (ACIN), TU Wien, Gusshausstrasse 27-29, A-1040Vienna, Austria.
Schitter G; Automation and Control Institute (ACIN), TU Wien, Gusshausstrasse 27-29, A-1040Vienna, Austria.
Mesquida P; Automation and Control Institute (ACIN), TU Wien, Gusshausstrasse 27-29, A-1040Vienna, Austria.

ACS Nano ; 16(11): 17982-17990, 2022 11 22.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-36215653

Asunto(s)

Nanopartículas; Agua; Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Agua/química; Electricidad Estática; Nanopartículas/química; Electricidad

Palabras clave

AC-KPFM; atomic force microscopy; microcontact printing; self-assembled monolayer; solid−liquid interface; surface charge

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Agua / Nanopartículas Idioma: En Revista: ACS Nano Año: 2022 Tipo del documento: Article País de afiliación: Austria Pais de publicación: Estados Unidos

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