Test Bench for Highly Segmented GRIT Double-Sided Silicon Strip Detectors: A Detector Quality Control Protocol.
Sensors (Basel)
; 23(12)2023 Jun 07.
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| ID: mdl-37420550
Palabras clave
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Asunto principal:
Silicio
Idioma:
En
Revista:
Sensors (Basel)
Año:
2023
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
España
Pais de publicación:
Suiza