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High resolution measurement of translucent plastic wall thicknesses by computerized tomography and neural networks.
Hemminger, T L; Farrell, R E.
Afiliación
  • Hemminger TL; School of Engineering and Engineering Technology, Penn State University, Behrend College, Erie 16563, USA. hemm@eetsg33.bd.psu.edu
Int J Neural Syst ; 8(3): 317-24, 1997 Jun.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-9427105
Asunto(s)
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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Plásticos / Tomografía Computarizada por Rayos X / Redes Neurales de la Computación Idioma: En Revista: Int J Neural Syst Asunto de la revista: ENGENHARIA BIOMEDICA / INFORMATICA MEDICA Año: 1997 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Singapur
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